更新時(shí)間:2024-01-21
天瑞鍍層測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。采用電磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化
天瑞儀器鍍層測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。采用電磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化。利用這一原理可以準(zhǔn)確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,這個(gè)距離即鍍層厚度。具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器。下面,我們來(lái)看看天瑞儀器鍍層測(cè)厚儀的分類(lèi)方法。
根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型:
1、磁性測(cè)厚法
適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量,導(dǎo)磁材料一般為鋼、鐵、銀、鎳等,這種方法測(cè)量精度高。
2、渦流測(cè)厚法
適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量,這種方法較磁性測(cè)厚法精度低。
3、超聲波測(cè)厚法
適用于多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合,但是價(jià)格較貴,精度也不高。
4、電解測(cè)厚法
這種方法與上述三種方法不同,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層,精度也不高,測(cè)量起來(lái)較其他幾種更為麻煩。
5、放射測(cè)厚法
這種方法測(cè)量昂貴,適用于一些特殊場(chǎng)合。
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
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