X熒光光譜儀黃銅分析儀用于各種金屬材料中各種化學(xué)元素的精確成分分析。用于原材料檢驗(yàn)，冶煉生產(chǎn)過(guò)程成分控制，成品元素成分定值及其它特殊應(yīng)用,以檢測(cè)銅合金的爐前快速分析和成品分析，控制銅合金中的各成分含量，從而在滿足客戶的技術(shù)要求下控制銅的含量以降低生產(chǎn)成本。
該技術(shù)的主要特征為：利用低能量X射線照射測(cè)試樣品，試樣中的一些原子將發(fā)射具用自身特征X射線熒光，從而識(shí)別這些元素，同時(shí)無(wú)損檢測(cè)其含量。天瑞儀器光譜儀采用現(xiàn)代zui xian進(jìn)的角度照射及準(zhǔn)直器和濾光片自動(dòng)組合系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了分析光譜的全譜分析。特殊設(shè)計(jì)的激發(fā)光源，使金屬材料的成份分析進(jìn)入了一個(gè)新的時(shí)代。的分析性能、極短的分析時(shí)間、極低的運(yùn)行維護(hù)成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡(jiǎn)單易行?？梢詮V泛適用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。天瑞儀器EDX3600B是當(dāng)今金屬分析的zui佳選擇，同時(shí)可以輕松面對(duì)未來(lái)分析的更高要求，不添加任何硬件設(shè)施，即可升級(jí)分析功能，方便靈活地隨生產(chǎn)發(fā)展的需要增加分析的元素及合金種類(lèi)。

型號(hào)： 黃銅分析儀EDX3600B
儀器介紹
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類(lèi)型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。
性能特點(diǎn)
專(zhuān)業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時(shí)分析元素：24種元素同時(shí)分析
測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量較薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測(cè)量時(shí)間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標(biāo)準(zhǔn)配置
電制冷UHRD探測(cè)器
信噪比增強(qiáng)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
精準(zhǔn)的升降平臺(tái)
加強(qiáng)的金屬元素感度分析器
應(yīng)用領(lǐng)域
鋼鐵和有色金屬檢測(cè)
水泥檢測(cè)
礦料分析